GB/T 4937.34-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环
- 标准名称半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环
- 标准编号GB/T 4937.34-2024
- 代替标准号：
GB/T 4937.34-2024标准描述了一种确定半导体器件对热应力和机械应力耐受能力的方法，通过对器件内部芯片和连接结构施加循环耗散功率来实现。
GB/T 4937.34-2024标准描述了一种确定半导体器件对热应力和机械应力耐受能力的方法，通过对器件内部芯片和连接结构施加循环耗散功率来实现。