GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命
- 标准名称半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命
- 标准编号GB/T 4937.23-2023
- 代替标准号：
GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命本文件描述了随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼，可用于筛选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。