GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法
- 标准名称元器件位移损伤试验方法
- 标准编号GB/T 42969-2023
- 代替标准号：
GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。
GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。