GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- 标准名称半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- 标准编号GB/T 42676-2023
- 代替标准号：
GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法本文件描述了利用X射线衍射仪测试半导体材料双晶摇摆曲线半高宽，进而评价半导体单晶晶体质量的方法。本文件适用于碳化硅、金刚石、氧化镓等单晶材料晶体质量的测试，硅、砷化镓、磷化铟等半导体材料晶体质量的测试也可参照本文件执行。
GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法本文件描述了利用X射线衍射仪测试半导体材料双晶摇摆曲线半高宽，进而评价半导体单晶晶体质量的方法。本文件适用于碳化硅、金刚石、氧化镓等单晶材料晶体质量的测试，硅、砷化镓、磷化铟等半导体材料晶体质量的测试也可参照本文件执行。