GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
- 标准名称光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
- 标准编号GB/T 41805-2022
- 代替标准号：
GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法本文件描述了采用显微散射暗场成像法对光学元件表面疵病进行定量检测的检测原理、试验条件、仪器设备、样品、检测步骤和试验数据处理和检测报告。
GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法本文件描述了采用显微散射暗场成像法对光学元件表面疵病进行定量检测的检测原理、试验条件、仪器设备、样品、检测步骤和试验数据处理和检测报告。